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模擬靜電場描繪儀原理
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發布日期:[2024-08-27] 共閱[151]次 |
導電微晶法靜電場描繪儀是由導電微晶、雙層固定支架、同步探針等組成;支架采用雙層結構,上層放記錄紙,下層放導電微晶。電極已制作在導電微晶上,并將電極引線接出到外接線柱上,電極間制作有導電率,小于電極且向均勻的導電介質。接通直流電源可以進行實驗。在導電微晶和記錄紙上方有一探針,通過金屬探針臂把兩探針固定在同一手柄座上,兩探終保持在同一鉛垂線上。移動手柄座時,兩探針的運動軌跡是一樣的。由導電微晶上方的探針找到待測點后,按下記錄紙上方的探針,在記錄紙上留下對應的標記,移動同步探針在導電微晶上找出若干電位相同的點,由此可描繪出等位線。 實驗目的: 模擬法測繪靜電場; 采用導電微晶法,電阻微晶結構; 規格參數: 雙層結構,約200mm*90mm 描繪平臺:約200mm*200mm*4mm,電極可更換; 激光描點,激光電源,功率2mw,波長625nm 彈性探頭,接觸電阻小,接觸穩; 電極數量:2個;同軸電纜、平行板電容(還可選配3個:點與平板、平行導線、聚焦) 電阻微晶:約125mm*125mm*0.2mm均勻、耐磨; 電極規格:約200mm*150mm*3mm(不容易破損,減少玻璃易破的確點) 電壓輸出:DC 0-12V數顯,連續可調; 精度范圍:0.01V,短路保護功能; 配電阻微晶導電微晶電極板:同軸電纜、平行板電容,電極板可更換。 |
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